Servicio de Metrología
Ecokit Electronics cuenta con un departamento de Ingeniería y Metrología en las variables de:
Masas y Balanzas, Humedad y Temperatura, Volumetría, Fotometría, Espectrofotometría, Frecuencia y tiempo, Turbimetría, Nefelometría – Oximetría – Conductividad – Manometría/Presión, phmetria y variables biomédicas.
Todo al alcance de su laboratorio. Somos el punto de soporte en calibración, validación, calificación con métodos y procesos normalizados en ISO/IEC 17025, aseguramiento metrológico, asesoría y capacitaciones en metrología de todo el instrumental manual, automático y robotizado que interviene en el normal desarrollo de su laboratorio o proceso.
Para que su laboratorio pueda garantizar un excelente control de calidad en el procesamiento de técnicas/muestreos/procesos en el cumplimiento de la norma GLP, BPM, ISO 17025 e ISO 9001
Variables Físicas de Metrología.
Masas y Balanzas
Método: Normalizado
Patrón: Bloques Certificados
Guia: SIM
Norma Referente: NTC 2031 – OIML R111
Alcance: 0 – 500Kg
Volumetría
Método: Normalizado
Guia: ISO/IEC 17025 DEL 2015
Norma Referente: ISO 8655-6: 2002, Corrigendum 1:2008
Alcance: 0.1 ul a 10ml
Alcance: 0 – 500Kg
Humedad
Método: Normalizado
Guia: Modelo ILSDR851RA
Norma Referente: ITS EIT 90, IEC60068, DKDR5-7
Alcance: -10°C a 70°C y 10 a 100%
Alcance: 0 – 500Kg
Temperatura
Método: Normalizado
Guia: ISO/IEC 17025 DE 2005
Norma Referente: ITS-EIT-90
Alcance: -10°C a 70°C
PHmetría
Método: Normalizado
Patrón: Sachet CertiPUR Merck-Traceable SRM de la NIS y PTB
Guia: DIN 19268
Norma Referente:
Alcance: 4.01 – 10.00 Ph
Conductividad
Método: Normalizado
Patrón: Standard método 21ST-ACS 10A y USP33/2010
Guia: USP 33/2010
Norma Referente:
Alcance: 1.413 – 100
Oximetría
Método: Normalizado
Patrón: Solución HI7040L- Traceable SRM de la NIST y PTB
Guia: DIN 19268
Norma Referente:
Alcance: 0.50 / -0.5
Nanometría
Método: Normalizado
Guia: Espectroquant Phtocheck Merck- Traceable SRM de la NIST y PTB
Norma Referente: ISO/IEC 17025 DEL 2005
Alcance: 445 – 650 Nm
Fotometría y
Espectrofotometría
Método: Normalizado
Patrón: Espectroquant Phtocheck Merck-Traceable SRM de la NIST y PTB
Guia: SMR 1930
Norma Referente:
Alcance: 340Nm – 690Nm
Frecuencia
Método: Normalizado
Guia: CEM-EL001 Edición 4 2003
Norma Referente: ISO/IEC 17025 de 2005
Alcance: 600 ☊ – 50M☊, 0,6VDC, 0,6VAC- 1000AC, 0,06A – 10A
Tiempo
Método: Normalizado
Guia: CENAM 1567-4
Norma Referente: ISO/IEC 17025 del 2005
Alcance: 10 a 60 Min
Turbimetría
Método: Normalizado
Guia: StablCal- HACH- Traceable SRM de la NIST y PTB
Norma Referente: ISO/IEC 17025 DE 2005
Alcance: 0,1 – 20 – 100 – 800 NTU
Nefelometría
Método: Normalizado
Guia: StablCal- HACH- Traceable SRM de la NIST y PTB
Norma Referente: ISO/IEC 17025 DE 2005
Alcance: 0,1 – 20 – 100 – 800 NTU
